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本发明提供一种晶体阵列定位方法及装置，该方法包括：根据晶体阵列中各晶体产生的闪烁脉冲，获取所述各晶体的原始能谱，所述晶体外包裹的反射层已进行不同程度的漏光或吸光处理，使得所述晶体中发生γ光子沉积后产生的可见光光子产生不同程度的漏光或吸光；确...
该专利属于华中科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过华中科技大学授权不得商用。

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