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本技术提供一种预热环及半导体设备。其中,所述预热环中的进气端部的环面宽度大于出气端部的环面宽度,以能够增加反应气体与所述进气端部的接触面积,从而提高对所述反应气体的加热活化效果,优化晶圆表面各区域的反应均匀性。以及,所述进气端部是呈疏密不同...该专利属于芯恩(青岛)集成电路有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过芯恩(青岛)集成电路有限公司授权不得商用。
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本技术提供一种预热环及半导体设备。其中,所述预热环中的进气端部的环面宽度大于出气端部的环面宽度,以能够增加反应气体与所述进气端部的接触面积,从而提高对所述反应气体的加热活化效果,优化晶圆表面各区域的反应均匀性。以及,所述进气端部是呈疏密不同...