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本发明公开了SRAM增强型测试方法、装置、计算机设备及存储介质，方法包括：在CP/FT测试阶段对芯片执行第一轮的mbist测试，第一轮的mbist测试通过测试机台启动；若芯片第一轮的mbist测试通过，对芯片执行产品功能测试阶段的测试；在芯...
该专利属于苏州忆联信息系统有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州忆联信息系统有限公司授权不得商用。

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