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本发明公开了一种芯片测试头用手动式机械臂，包括底板，底板上设有立柱，立柱上连接有升降板，升降板上转动连接有第一段臂，第一段臂转动连接有第二段臂，第二段臂转动连接有第三段臂，第三段臂连接有转轴分度盘，升降板与第一段臂、第一段臂与第二段臂、第二...
该专利属于三公井精密科技（苏州）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过三公井精密科技（苏州）有限公司授权不得商用。

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