【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片测试，具体为一种芯片测试头用手动式机械臂。
技术介绍
1、随着科技的发展，芯片产业发展越来越快，芯片的小型化、多功能是现代芯片产业的发展趋势。芯片在制造过程中的测试是整个芯片加工过程中的重要一环，而芯片测试需要用到测试仪，在测试过程中需将芯片放置于测试仪的芯片测试头和机台之间，通过机械臂驱动测试头移动，对芯片进行测试。现有的机械臂多为智能机器人手臂，其价格高昂，不利于中小型企业的发展；也存在一些手动测试臂，但是其结构简单，仅能在有限空间内水平或竖直移动，而无法进行特定角度的芯片测试。如专利公开号为cn115194818a所公开的一种芯片测试用手动调节机械臂，其公开了通过手动调节三个段臂转动，实现带动测试头移动，实现水平方向的位移。虽然其也能驱动测试头转动一定角度，但是对于一些特殊角度的芯片测试是无法实现的。因此，芯片测试头用机械臂的研究依旧是目前芯片测试的重点研究对象。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种芯片测试头用手动式机械臂，以解决上述
技术介绍
中提出的问题
2、本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种芯片测试头用手动式机械臂，包括底板(1)，所述底板(1)上设有立柱(2)，所述立柱(2)上连接有升降板(3)，所述升降板(3)上转动连接有第一段臂(4)，所述第一段臂(4)转动连接有第二段臂(5)，所述第二段臂(5)转动连接有第三段臂(6)，所述第三段臂(6)连接有转轴分度盘(7)，其特征在于：所述升降板(3)与第一段臂(4)、第一段臂(4)与第二段臂(5)、第二段臂(5)和第三段臂(6)之间均连接有连接轴(8)和锁紧件(9)，所述第三段臂(6)上设有定位组件(11)，所述第三段臂(6)内穿设有转轴(10)，所述转轴(10)穿插于转轴分度盘(7)中心且与转轴分...
【技术特征摘要】
1.一种芯片测试头用手动式机械臂，包括底板(1)，所述底板(1)上设有立柱(2)，所述立柱(2)上连接有升降板(3)，所述升降板(3)上转动连接有第一段臂(4)，所述第一段臂(4)转动连接有第二段臂(5)，所述第二段臂(5)转动连接有第三段臂(6)，所述第三段臂(6)连接有转轴分度盘(7)，其特征在于：所述升降板(3)与第一段臂(4)、第一段臂(4)与第二段臂(5)、第二段臂(5)和第三段臂(6)之间均连接有连接轴(8)和锁紧件(9)，所述第三段臂(6)上设有定位组件(11)，所述第三段臂(6)内穿设有转轴(10)，所述转轴(10)穿插于转轴分度盘(7)中心且与转轴分度盘(7)固定连接，所述第三段臂(6)上设有用于转轴(10)锁止的第二锁紧把手(12)。
2.根据权利要求1所述的一种芯片测试头用手动式机械臂，其特征在于：所述转轴分度盘(7)为圆形结构，所述转轴分度盘(7)上沿其圆周方向设有多个定位孔(71)和安装孔(72)，所述定位孔(71)和安装孔(72)均为圆形通孔，所述安装孔(72)设置于定位孔(71)的内侧。
3.根据权利要求2所述的一种芯片测试头用手动式机械臂，其特征在于：所述定位组件(11)包含固定块(111)和定位销(112)，所述固定块(111)固定于第三段臂(6)的侧边，所述定位销(112)安装于固定块(111)上，所述定位销(112)与定位孔(71)相匹配。
4.根据权利要求3所述的一种芯片测试头用手动式机械臂，其特征在于：所述定位销(112)的中部设有螺纹，其螺纹部与固定块(111)螺接且螺纹部的远离转轴分度盘(7)端螺接有螺母。
5.根据权利要求1所述的一种芯片测试头用手动式机械臂，其特征在于：所述锁紧件(9)包含锁紧块(91)和第一锁紧把手(92)，所述锁紧块(91)上设有连接轴孔(911)和锁紧孔(913)，所述连接轴孔(911)连接有贯穿锁紧块(91)的开槽(912)，所述锁紧孔(913)贯穿锁紧块(9...
【专利技术属性】
技术研发人员：马少奇，孝宏远，荣国青，
申请(专利权)人：三公井精密科技苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：
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