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本发明所涉及的成像解析装置的一方案具备：测量部，通过对试样中的规定的测量区域内的多个微小区域分别进行离子迁移率质量分析来获取分析结果数据；相关性调查部(22、23)，基于由测量部获取到的分析结果数据来调查该数据中的m/z与离子迁移率的相关性...
该专利属于株式会社岛津制作所所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社岛津制作所授权不得商用。

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