使用了离子迁移率质量分析的成像解析方法及装置制造方法及图纸

技术编号:43835772 阅读:18 留言:0更新日期:2024-12-31 18:33
本发明专利技术所涉及的成像解析装置的一方案具备:测量部,通过对试样中的规定的测量区域内的多个微小区域分别进行离子迁移率质量分析来获取分析结果数据;相关性调查部(22、23),基于由测量部获取到的分析结果数据来调查该数据中的m/z与离子迁移率的相关性;以及数据削减部(24、25),基于由相关性调查部得到的相关性结果,根据m/z限定离子迁移率范围或根据离子迁移率限定m/z范围,由此削减分析结果数据的量。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

本专利技术涉及使用了离子迁移率质量分析(ion mobility spectrometry-massspectrometry)作为分析手法的成像解析方法及装置。


技术介绍

1、如专利文献1等所记载的那样,在成像质量分析装置中,一般针对将试样上的2维测量区域细致地划分而得的各个微小区域,获取规定的质荷比(m/z)范围内的质谱数据。如果将试样上的微小区域的2维坐标等位置信息作为沿着一条轴的信息来处理,则通过成像质量分析装置获取的数据是如图3的(a)所示的由一条轴为位置信息、另一条轴为m/z值(质谱信息)的两个参数表现的2维的离子强度数据。在该情况下,针对测量区域内的某一个微小区域得到的质谱数据在图3的(a)中是沿着水平线a的离子强度数据。

2、在质量分析中,原理上无法将某种化合物和质量与其相同的结构异构体等分离并检测。与此相对,近年来,并用了根据碰撞截面积来分离离子的离子迁移率分析和质量分析的离子迁移率质量分析装置被供于实际应用。在专利文献2、非专利文献1中,公开了在离子迁移率分离部的后级配置有正交加速飞行时间型质量分析装置的离子迁移率质量分析装置本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种使用了离子迁移率质量分析的成像解析方法,是解析通过对试样中的规定的测量区域内的多个微小区域分别进行离子迁移率质量分析而得到的分析结果数据的解析方法,其特征在于,具有:

2.如权利要求1所述的使用了离子迁移率质量分析的成像解析方法,其特征在于,还具有:参数转换步骤,针对所述数据削减步骤中的削减后的分析结果数据,将作为各数据的参数的离子迁移率和质荷比的值转换为汇总成一个数值而得的临时参数。

3.一种使用了离子迁移率质量分析的成像解析装置,其特征在于,具备:

4.如权利要求3所述的使用了离子迁移率质量分析的成像解析装置,其特征在于,还具备:参数转换部...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种使用了离子迁移率质量分析的成像解析方法,是解析通过对试样中的规定的测量区域内的多个微小区域分别进行离子迁移率质量分析而得到的分析结果数据的解析方法,其特征在于,具有:

2.如权利要求1所述的使用了离子迁移率质量分析的成像解析方法,其特征在于,还具有:参数转换步骤,针对所述数据削减步骤中的削减后的分析结果数据,将作为各数据的参数的离子迁移率和质荷比的值转换为汇总成一个数值而得的临时参数。

3.一种使用了离子迁移率质量分析的成像解析装置,其特征在于,具备:

4.如权利要求3所述的使用了离子迁移率质量分析的成像解析装置,其特征在于,还具备:参数转换部,针对由所述数据削减部削减后的分析结果数据,将作为各数据的参数的离子迁移率和质荷比的值转换为汇总成一个数值而得的临时参数。

5.一种使用了离子迁移率质量分析的成像解析方法,是解析通过对试样中的规定的测量区域内的多个微小区域分别进行离子迁移率质量分析而得到的分析结果数据的解析方法,其特征在于,具有:

6.如权利要求5所述的使用了离子迁移率质...

【专利技术属性】
技术研发人员:山口真一
申请(专利权)人:株式会社岛津制作所
类型:发明
国别省市:

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