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本申请涉及芯片测试的技术领域，公开一种转盘式高温测试机构的区间温度控制方法及系统，方法包括：获取位于芯片测试站前第一测温点的第一温度值；获取位于芯片测试站后第二测温点的第二温度值；判断第二温度值是否低于设定的第一温度阈值，若低于，则为无效测...
该专利属于上海赢朔电子科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海赢朔电子科技股份有限公司授权不得商用。

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