温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本申请提供了一种系统级芯片的测试方法及测试装置。测试装置包括上位机，测试板以及性能检测设备。上位机生成芯片的测试指令；每个测试板上有多个芯片插槽，测试电源供应模块以及温度控制模块，每个插槽与一个芯片对应，温度控制模块用于将芯片控制在设定的温...
该专利属于桂林电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过桂林电子科技大学授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。