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本申请公开了一种检测系统及方法，该系统包括第一分光元件、第一探测设备、线性阵列光电接收器件和干涉元件。该检测系统中，通过第一分光元件将来自光学元件的第一束光分为第一透射光和第一反射光；进而第一探测设备可以检测第一反射光的光强变化值，该第一反...
该专利属于华为技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过华为技术有限公司授权不得商用。

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