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本申请公开了一种人工智能芯片测试方法、装置及系统，涉及人工智能技术领域，包括：测试主机向人工智能芯片发送第一测试指令以及至少一个第一测试数据，第一测试指令用于指示人工智能芯片基于目标人工智能模型执行目标任务推理；测试主机将第一测试数据的发送...
该专利属于中国科学院微电子研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院微电子研究所授权不得商用。

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