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本发明涉及芯片检测设备技术领域,特别涉及一种芯片引脚接触检测装置及方法,包括测试台,所述测试台的上表面可拆卸安装有测试板,所述测试板的四周边缘等距可拆卸安装有若干个弹性导电头,所述测试板的四周设置有能够对待测芯片对接到位监测的监测机构,本发...该专利属于深圳市因梦晶凯测试技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳市因梦晶凯测试技术有限公司授权不得商用。
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本发明涉及芯片检测设备技术领域,特别涉及一种芯片引脚接触检测装置及方法,包括测试台,所述测试台的上表面可拆卸安装有测试板,所述测试板的四周边缘等距可拆卸安装有若干个弹性导电头,所述测试板的四周设置有能够对待测芯片对接到位监测的监测机构,本发...