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本发明公开了一种高精度小尺寸圆柱型晶体晶向旋转检测装置，结构为：上下调整垫片布置在底座上，底座背撑布置在上下调整垫片上，背撑支架布置在底座背撑上，刻度盘布置在背撑支架上，前后调整垫片纵向布置在底座背撑和背撑支架之间，晶体夹持在固定夹具和V型...
该专利属于天津津航技术物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过天津津航技术物理研究所授权不得商用。

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