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本发明提供一种抱球式结构测试座，通过将所述连接端子为Y字形结构，所述连接端子的上端分叉形成有两个弹性扣合片，所述弹性扣合片上端的相对面为圆弧形结构，所述上盖对应所述弹性扣合片设置有阵列的限位孔，所述弹性扣合片穿过所述限位孔，所述上盖在下压或...
该专利属于深圳圆融达微电子技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳圆融达微电子技术有限公司授权不得商用。

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