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本发明公开了一种X射线对固体绝缘材料电学性能影响的评估方法及装置，方法包括使用X射线照射待测试样，获取不同强度、不同时间处理后的待测试样；测量处理后待测试样的体电阻率和表面电阻率；去除待测试样表面残余电荷后对绝缘子表面施加电荷，测量待测试样...
该专利属于国网安徽省电力有限公司电力科学研究院所有，仅供学习研究参考，未经过国网安徽省电力有限公司电力科学研究院授权不得商用。

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