X射线对固体绝缘材料电学性能影响的评估方法及装置制造方法及图纸

技术编号:43670905 阅读:26 留言:0更新日期:2024-12-18 20:56
本发明专利技术公开了一种X射线对固体绝缘材料电学性能影响的评估方法及装置,方法包括使用X射线照射待测试样,获取不同强度、不同时间处理后的待测试样;测量处理后待测试样的体电阻率和表面电阻率;去除待测试样表面残余电荷后对绝缘子表面施加电荷,测量待测试样中心点电位的衰减,并求取其表面陷阱分布;基于所述体电阻率、表面电阻率和表面陷阱分布与X射线处理前的待测试样性能进行对比,确定X射线对绝缘材料电学性能影响的评估结果;本发明专利技术可更加准确的评估X射线对固体绝缘材料电学性能影响。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及高电压与绝缘,具体涉及一种x射线对固体绝缘材料电学性能影响的评估方法及装置。


技术介绍

1、气体组合绝缘电器(gas insulated switchgear, gis)由于其运行可靠性高,维护工量少,检修周期长等优点,在电力系统中得到了广泛应用,其装用量的年均增长率超过20%。运行经验表明,尽管gis设备运行的可靠性非常高,但因其内部不可避免的缺陷仍会引发故障并逐步扩大,常常导致重大事故的发生,已成为电力部门极为关注的问题和本学科领域研究的热点。

2、从目前研究形成的共识看,引起绝缘故障主要是由于gis内部存在着各种缺陷,这些缺陷畸变了gis内部的电场,使得局部电场集中而产生局部放电。从缺陷的种类来看主要有严重的装配错误、自由导电微粒、金属突出物、绝缘子表面和内部缺陷、导体之间电气或机械接触不良等。由于全部设备部件完全封闭在金属外壳中,不能依靠人的感官发现故障的早期征兆,现有常规带电检测技术应用于全封闭式gis设备内部缺陷诊断短板不一,尤其是缺陷发展程度的判定不直观。鉴于此,研究人员提出采用x射线检测技术进行gis内部故障缺陷定本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种X射线对固体绝缘材料电学性能影响的评估方法,其特征在于,所述方法包括:

2.如权利要求1所述的X射线对固体绝缘材料电学性能影响的评估方法,其特征在于,所述使用X射线照射待测试样,获取不同强度、不同时间处理后的待测试样,包括:

3.如权利要求1所述的X射线对固体绝缘材料电学性能影响的评估方法,其特征在于,所述测量处理后待测试样的体电阻率和表面电阻率,包括:

4.如权利要求1所述的X射线对固体绝缘材料电学性能影响的评估方法,其特征在于,所述去除待测试样表面残余电荷后对绝缘子表面施加电荷,测量待测试样中心点电位的衰减,并求取其表面陷阱分布,包括:...

【技术特征摘要】

1.一种x射线对固体绝缘材料电学性能影响的评估方法,其特征在于,所述方法包括:

2.如权利要求1所述的x射线对固体绝缘材料电学性能影响的评估方法,其特征在于,所述使用x射线照射待测试样,获取不同强度、不同时间处理后的待测试样,包括:

3.如权利要求1所述的x射线对固体绝缘材料电学性能影响的评估方法,其特征在于,所述测量处理后待测试样的体电阻率和表面电阻率,包括:

4.如权利要求1所述的x射线对固体绝缘材料电学性能影响的评估方法,其特征在于,所述去除待测试样表面残余电荷后对绝缘子表面施加电荷,测量待测试样中心点电位的衰减,并求取其表面陷阱分布,包括:

5.如权利要求4所述的x射线对固体绝缘材料电学性能影响的评估方法,其特征在于,所述测量所述待测试样的本征电位衰减,计算电子陷阱的密度,包括:

6.如权利要求4所述的x射线对固体绝缘材料电学性能影响的评估方法,其特征在于,所述根据陷阱中载流子脱陷对应于材料表面电位衰减的不同过程,采用双指数函数对测量得到的电位衰减曲线进行拟合,得到拟合曲线,包括:

...

【专利技术属性】
技术研发人员:张国宝赵恒阳黄伟民杨为李坚林柯艳国吴正阳蔡梦怡张磊田宇孙皓天黄邦斗杨熙
申请(专利权)人:国网安徽省电力有限公司电力科学研究院
类型:发明
国别省市:

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