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本技术涉及一种芯片试验箱和芯片试验装置。芯片试验箱包括：箱体，箱体的第一侧开设有第一通孔，第二侧设有第一门体，第一门体开设有第二通孔；以及支承组件，设置于箱体内部，用于支承被测芯片，支承组件开设有第三通孔，第三通孔朝向被测芯片，且第三通孔与...
该专利属于南京芯视元电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过南京芯视元电子有限公司授权不得商用。

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