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本发明公开了一种EDA中分层式设计规则检查系统与方法，用于集成电路设计的高效和精确设计规则检查。该系统通过结合初级违规检测、卷积神经网络（CNN）违规分类和高级GPU并行算法的精准分析，形成了一个多层次的检查流程。该方法首先使用基于决策树的...
该专利属于上海芯轫科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海芯轫科技有限公司授权不得商用。

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