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本技术公开了一种低漏电测试用探针卡，包括PCB测试板、PI膜和探针组件，所述PI膜中间设有若干第一接触点，PI膜外围设有若干第二接触点，PI膜上设有预设的转接线路，转接线路连接第一接触点和第二接触点；所述探针组件包括上盖板、下盖板和若干ME...
该专利属于浙江微针半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过浙江微针半导体有限公司授权不得商用。

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