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一种用于使用具有发射具有非均匀强度廓线(30)的激光光(16)的半导体激光器(14)的激光设备(12)来确定粒子流(10)中粒子分布的方法，所述方法的特征在于：‑24P8接收所述激光光(16)在粒子流(10)的粒子(18)处产生的光反射(2...
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