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本申请提供一种生成测试用例的方法。该方法包括：接收芯片设计的系统级测试操作；根据所述系统级测试操作生成多个芯片操作，所述多个芯片操作包括第一芯片操作；根据所述第一芯片操作确定第一测试场景；获取与所述第一测试场景对应的第一配置文件，所述配置文...
该专利属于芯华章科技（深圳）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过芯华章科技（深圳）有限公司授权不得商用。

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