【技术实现步骤摘要】
本申请实施例涉及逻辑系统设计，尤其涉及一种在为芯片设计在硅前和硅后阶段生成对应测试用例的方法、电子设备及存储介质。
技术介绍
1、在集成电路的验证领域，为了测试芯片设计的功能，通常需要对芯片设计进行验证。在验证过程中，需要借助测试用例来测试芯片功能是否正确。
2、芯片验证可以分为流片前（硅前）的验证和流片后（硅后）的验证。硅前验证通常是针对芯片本身的功能的验证，而硅后验证通常是系统级测试（systemleveltesting,slt），用于验证实际芯片在真实电子系统环境下的系统级功能是否正确。
3、目前，由于系统级测试本身无法透过复杂的电子系统定位错误的根本原因，所以对于硅后验证中出现异常的芯片通常的处理就是直接作废。
技术实现思路
1、有鉴于此，本申请提出了一种生成测试用例的的方法、电子设备及存储介质。
2、本申请第一方面，提供了一种生成测试用例的方法。该方法包括：接收芯片设计的系统级测试操作；根据所述系统级测试操作生成多个芯片操作，所述多个芯片操作包...
【技术保护点】
1.一种生成测试用例的方法，包括：
2.如权利要求1所述的方法，其中，根据所述系统级测试操作生成多个芯片操作进一步包括：
3.如权利要求1所述的方法，其中，所述第一配置文件包括用于运行所述多个测试用例的验证平台的类型或与所述第一测试场景对应的约束条件。
4.如权利要求3所述的方法，其中，所述验证平台的类型包括软件仿真器、硬件仿真器或原型验证系统。
5.如权利要求4所述的方法，进一步包括：
6.一种电子设备，包括：
7.一种非暂态计算机可读存储介质，所述非暂态计算机可读存储介质存储电子装置的一组指令...
【技术特征摘要】
1.一种生成测试用例的方法，包括：
2.如权利要求1所述的方法，其中，根据所述系统级测试操作生成多个芯片操作进一步包括：
3.如权利要求1所述的方法，其中，所述第一配置文件包括用于运行所述多个测试用例的验证平台的类型或与所述第一测试场景对应的约束条件。
4.如权利要求3所述的方法，其...
【专利技术属性】
技术研发人员：商一鸣，芦莹，吴惠平，高世超，
申请(专利权)人：芯华章科技深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：
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