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本申请公开了一种扩展测试板，可应用于芯片测试技术领域，该扩展测试板可实现对不同损耗条件下的电信号进行测试，包括：测试板主体和设置在所述测试板主体上的连接器组件；每组所述连接器组件包括两个第一连接端、两个第二连接端以及一对差分传输线；所述第一...
该专利属于井芯微电子技术（天津）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过井芯微电子技术（天津）有限公司授权不得商用。

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