一种扩展测试板制造技术

本申请公开了一种扩展测试板，可应用于芯片测试技术领域，该扩展测试板可实现对不同损耗条件下的电信号进行测试，包括：测试板主体和设置在所述测试板主体上的连接器组件；每组所述连接器组件包括两个第一连接端、两个第二连接端以及一对差分传输线；所述第一连接端用于与芯片测试板连接，并接收电信号；所述第二连接端用于与高速示波器连接，并发送电信号；所述差分传输线一端与所述第一连接端连接，另一端与所述第二连接端连接，用于传输电信号。如此，可以通过对不同组连接器组件中的差分传输线进行区别设置，从而实现对不同损耗条件下的电信号进行信号质量的测试，进而为后期不同产品应用此芯片时的PCB设计提供参考。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及芯片测试，特别是涉及一种扩展测试板。

技术介绍

1、随着半导体行业的迅速发展，芯片设计公司越来越多，芯片上的信号速率也已经达到了5gbps以上，信号质量问题越来越被人们所关注。

2、高速示波器可以将肉眼看不到的电信号转换为看得见的图像，通过波形来呈现电信号的质量。一般电信号的质量可以通过信号眼图的眼高、眼宽以及信号的抖动来确定。由于导线损耗、介质损耗和反射等因素的存在，信号在传输过程不可避免的存在衰减，不同速率的信号传输相同长度的衰减程度不同，信号速率越高，衰减程度越大。信号在传输过程的衰减是影响信号质量的主要因素之一。

3、因此，如何设计用于对不同损耗条件下的电信号进行测试的扩展测试板，是本领域技术人员急需解决的问题。

技术实现思路

1、基于上述问题，本申请实施例提供了一种扩展测试板，可以通过对不同组连接器组件中的差分传输线进行区别设置，从而实现对不同损耗条件下的电信号进行信号质量的测试，进而为后期不同产品应用此芯片时的pcb设计提供参考。

2、第一方面，本申请本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种扩展测试板，用于对不同损耗条件下的电信号进行测试，其特征在于，包括：测试板主体和设置在所述测试板主体上的连接器组件；

2.根据权利要求1所述的扩展测试板，其特征在于，所述第一连接端和所述第二连接端均为SMA型射频同轴连接器。

3.根据权利要求1所述的扩展测试板，其特征在于，所述扩展测试板还包括：金手指连接器件；

4.根据权利要求1所述的扩展测试板，其特征在于，所述扩展测试板还包括：插槽连接器件；

5.根据权利要求1所述的扩展测试板，其特征在于，所述测试板主体上平行设置有12组所述连接器组件，按自然数顺序为12组所述连接器组件进行编号...

【技术特征摘要】

1.一种扩展测试板，用于对不同损耗条件下的电信号进行测试，其特征在于，包括：测试板主体和设置在所述测试板主体上的连接器组件；

2.根据权利要求1所述的扩展测试板，其特征在于，所述第一连接端和所述第二连接端均为sma型射频同轴连接器。

3.根据权利要求1所述的扩展测试板，其特征在于，所述扩展测试板还包括：金手指连接器件；

4.根据权利要求1所述的扩展测试板，其特征在于，所述扩展测试板还包括：插槽连接器件；

5.根据权利要求1所述的扩展测试板，其特征在于，所述测试板主体上平行设置有12组所述连接器组件，按自然数顺序为12组所述连接器组件进行编号...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱珂，张波，赵玉林，王锐，张钦元，徐涛，毛英杰，王渊，常超，
申请(专利权)人：井芯微电子技术天津有限公司，
类型：发明
国别省市：