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本技术公开了一种射频走线渐变的测试板结构，涉及射频走线的测试板结构领域。本技术由上至下布置的三层介质层以及设置于介质层上下及中间的四层铜片层构成，位于第一铜片层表面中间位置通过挖空两道第一线槽形成第一段细线，位于第一段细线的两侧对称挖空两道...
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