【技术实现步骤摘要】
本技术属于射频走线的测试板结构领域，特别是涉及一种射频走线渐变的测试板结构。
技术介绍
1、随着5g技术的发展，5g射频通讯芯片应用频段不断扩展，对于5g射频通讯芯片的测试板需要覆盖更高的频段，芯片测试板需要1.0ghz-9.0ghz范围，并且要求射频线损耗小，能够准确测试芯片在高频(7-9ghz)的性能。
2、现有技术通常采用的是不使用分段设计以及挖空处理，从而导致射频走线损耗较大，在高频7-9ghz情况下会达到1.5-3db的损耗。因此，针对以上问题，本技术方案提出了一种射频走线渐变的测试板结构。
技术实现思路
1、本技术提供了一种射频走线渐变的测试板结构，该结构由上至下布置的三层介质层以及设置于介质层上下及中间的四层铜片层构成，位于第一铜片层表面中间位置通过挖空两道第一线槽形成第一段细线，位于第一段细线的两侧对称挖空两道第二线槽形成第二段粗线，第一段细线与第二段粗线之间使用45度渐变线进行过渡，通过结构，能够使第二段粗线形成的射频传输线参考地距离变大，根据传输线模型理论，...
【技术保护点】
1.一种射频走线渐变的测试板结构，其特征在于，包括由上至下布置的三层外轮廓同为矩形的介质层；第一层介质层上表面设置有第一铜片层(1)，第一层介质层与第二层介质层之间设置有第二铜片层(2)，第二层介质层与第三层介质层之间设置有第三铜片层(3)，第三层介质层外表面设置有第四铜片层(4)；
2.根据权利要求1所述的一种射频走线渐变的测试板结构，其特征在于，所述第一铜片层(1)、第二铜片层(2)、第三铜片层(3)、第四铜片层(4)厚度均为1oz。
3.根据权利要求1所述的一种射频走线渐变的测试板结构，其特征在于，所述第一层介质层以及第二层介质层采用RO...
【技术特征摘要】
1.一种射频走线渐变的测试板结构，其特征在于，包括由上至下布置的三层外轮廓同为矩形的介质层；第一层介质层上表面设置有第一铜片层(1)，第一层介质层与第二层介质层之间设置有第二铜片层(2)，第二层介质层与第三层介质层之间设置有第三铜片层(3)，第三层介质层外表面设置有第四铜片层(4)；
2.根据权利要求1所述的一种射频走线渐变的测试板结构，其特征在于，所述第一铜片层(1)、第二铜片层(2)、第三铜片层(3)、第四铜片层(4)厚度均为1oz。
3.根据权利要求1所述的一种...
【专利技术属性】
技术研发人员：王应娜，靳立伟，黄明宇，谢婷婷，倪文海，徐文华，
申请(专利权)人：上海迦美信芯通讯技术有限公司，
类型：新型
国别省市：
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