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本文描述了操纵纳米尺度颗粒和微米尺度颗粒的系统和方法。系统通常包括：光学成像系统，其用于获取颗粒样品的图像；处理器，其用于分析图像，标识图像中的目标颗粒，以及确定目标颗粒在颗粒样品中的侧向位置；和基于真空的探测器系统，其包括可移动探测器和真...
该专利属于怀俄尼克斯有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过怀俄尼克斯有限责任公司授权不得商用。

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