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片上反射系数测量系统技术方案
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文档序号:43499812
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本公开涉及片上反射系数测量系统。一种设备可以包括用于将Rx天线耦合到Rx链的接收(Rx)天线输入端和用于朝向Rx天线注入测试信号的信号耦合器。设备可以包括用于处于第一开关状态使Rx天线与Rx链隔离,而处于第二开关状态准许测试信号探测Rx天线...
该专利属于英飞凌科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过英飞凌科技股份有限公司授权不得商用。
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