片上反射系数测量系统技术方案

技术编号:43499812 阅读:29 留言:0更新日期:2024-11-29 17:05
本公开涉及片上反射系数测量系统。一种设备可以包括用于将Rx天线耦合到Rx链的接收(Rx)天线输入端和用于朝向Rx天线注入测试信号的信号耦合器。设备可以包括用于处于第一开关状态使Rx天线与Rx链隔离,而处于第二开关状态准许测试信号探测Rx天线的Rx天线开关。Rx链可以测量基于第一反射测试信号而生成的第一基带信号的相量和基于第二反射测试信号而生成的第二基带信号的相量。设备可以包括用于基于相量来计算复数比率,基于复数比率并且使用传递函数来计算测量反射系数并且监测Rx天线的阻抗匹配的控制电路。

【技术实现步骤摘要】


技术介绍

1、射频(rf)设备(诸如雷达单片式微波集成电路(mmic))可能需要评估天线的连接质量以提供功能安全。对于车辆中利用rf设备的应用(诸如高级驾驶辅助系统(adas)应用),监测天线的连接质量尤其重要。


技术实现思路

1、在一些实施方式中,一种设备包括:用于将rx天线耦合到rx链的接收(rx)天线输入端;用于生成测试信号的测试信号生成器;用于朝向rx天线注入测试信号的信号耦合器;rx天线开关,该rx天线开关被配置为:当处于第一开关状态时使rx天线与rx链隔离来生成第一反射测试信号,并且当处于第二开关状态时准许测试信号探测rx天线来生成第二反射测试信号;rx链,被配置为:测量基于第一反射测试信号而生成的第一基带信号的相量(phasor)y1并且测量基于第二反射测试信号而生成的第二基带信号的相量y2;控制电路,被配置为:基于相量y1和相量y2来计算复数比率cr,并且基于复数比率cr并且使用传递函数h来计算测量反射系数γm,并且基于测量反射系数γm来监测rx天线的阻抗匹配。

<p>2、在一些实施方本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种设备,包括:

2.根据权利要求1所述的设备,其中所述传递函数H基于第一参数、第二参数、第三参数和第四参数,其中所述第四参数被设置为值1。

3.根据权利要求1所述的设备,其中所述传递函数H基于第一参数、第二参数、第三参数和第四参数,其中所述第一参数、所述第二参数和所述第三参数的值是频率相关值,并且所述第四参数被设置为值1。

4.根据权利要求1所述的设备,其中所述传递函数H基于第一参数、第二参数、第三参数和第四参数,其中所述第一参数、所述第二参数和所述第三参数的值是频率无关值,并且所述第四参数是频率相关值。

5.根据权利要求1所述的设备...

【技术特征摘要】

1.一种设备,包括:

2.根据权利要求1所述的设备,其中所述传递函数h基于第一参数、第二参数、第三参数和第四参数,其中所述第四参数被设置为值1。

3.根据权利要求1所述的设备,其中所述传递函数h基于第一参数、第二参数、第三参数和第四参数,其中所述第一参数、所述第二参数和所述第三参数的值是频率相关值,并且所述第四参数被设置为值1。

4.根据权利要求1所述的设备,其中所述传递函数h基于第一参数、第二参数、第三参数和第四参数,其中所述第一参数、所述第二参数和所述第三参数的值是频率无关值,并且所述第四参数是频率相关值。

5.根据权利要求1所述的设备,其中所述rx链包括本地振荡器lo,所述lo被配置为:

6.根据权利要求1所述的设备,其中所述rx天线是第一rx天线,所述测量反射系数γm是第一测量反射系数γm,并且其中用于监测所述第一rx天线的所述阻抗匹配的所述控制电路被配置为:

7.根据权利要求1所述的设备,其中所述传递函数h的参数的值基于与所述rx天线的连接相关联的散射参数的集合、与所述rx天线相关联的散射参数的集合和与所述信号耦合器相关联的散射参数的集合。

8.根据权利要求1所述的设备,其中所述传递函数h的参数的值基于方向性值集合、反射率值集合和源阻抗值集合。

9.根据权利要求1所述的设备,其中所述传递函数h的参数的值基于对所述参数的所述值进行调谐以便使成本函数最小化。

10.一种方法,包括:

11.根据权利要求10所述的方法,其中所述传递函数h基于第一参数、第...

【专利技术属性】
技术研发人员:T·奥贝姆勒A·施瓦兹S·赫辛格B·贝格S·施玛兹尔F·阿梅德M·弗尔坎
申请(专利权)人:英飞凌科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1