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本发明公开了一种用于自动测试设备的有效性校准方法，包括如下步骤：（１）启动自动测试设备，执行自检程序；（２）自检完毕之后，由外部测量设备连接测试用适配板的测量点，开始校准工作；（３）执行通道特性参数测量；（４）执行管脚参数测量单元测量；（５...
该专利属于北京华大泰思特半导体检测技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京华大泰思特半导体检测技术有限公司授权不得商用。

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