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本申请涉及一种批量调试短波激励器射频板的调试装置，其包括上位机、集线器、MCU和时钟源；所述集线器和MCU分别电连接上位测试机；所述时钟源与MCU电连接；所述集线器电连接有多路射频测试电路；所述每路射频测试电路包括串口接口、射频调试板、数控...
该专利属于北京北广科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京北广科技股份有限公司授权不得商用。

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