一种批量调试短波激励器射频板的调试装置制造方法及图纸

本申请涉及一种批量调试短波激励器射频板的调试装置，其包括上位机、集线器、MCU和时钟源；所述集线器和MCU分别电连接上位测试机；所述时钟源与MCU电连接；所述集线器电连接有多路射频测试电路；所述每路射频测试电路包括串口接口、射频调试板、数控衰减器、射频切换开关、功率测试电路和频率测试电路；所述射频调试板的输入端通过串口接口电连接集线器，所述射频调试板的输出端电连接数控衰减器；所述数控衰减器电连接射频切换开关；所述射频切换开关的两路输出分别电连接功率测试电路和频率测试电路；所述功率测试电路和频率测试电路均与MCU电连接。本申请具有提高短波激励器射频板的调试效率的效果。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及射频板调试的领域，尤其是涉及一种批量调试短波激励器射频板的调试装置。

技术介绍

1、射频板作为一个专门传输射频信号的载体，具有重要的作用和意义。首先，射频板能够增加无线通信设备的传输距离。当射频信号经过传输过程中会衰减，而射频板能够有效地减小信号衰减的程度，使得信号传输的距离更远，从而更好地满足通信需求。

2、在对短波激励器的射频板进行调试时，需要使用频谱仪和频率计对射频板逐一进行调试，在大批量调试任务中需要较多的调试人员，以及大量的频谱仪和频率计，人工成本和操作难度都较高。

技术实现思路

1、为了解决对短波激励器射频板调试中人工成本和调试难度高的问题，本申请提供了一种批量调试短波激励器射频板的调试装置。

2、本申请提供的一种批量调试短波激励器射频板的调试装置采用如下的技术方案：

3、一种批量调试短波激励器射频板的调试装置，包括位机、集线器、mcu和时钟源；

4、所述集线器和mcu分别电连接上位测试机；

5、所述时钟源与mcu电连接；

6、所述集线器电连接有多路射频测试电路；

7、所述每路射频测试电路包括串口接口、射频调试板、数控衰减器、射频切换开关、功率测试电路和频率测试电路；所述射频调试板的输入端通过串口接口电连接集线器，所述射频调试板的输出端电连接数控衰减器；所述数控衰减器电连接射频切换开关；所述射频切换开关的两路输出分别电连接功率测试电路和频率测试电路；所述功率测试电路和频率测试电路均与mcu电连接。

8、通过采用上述技术方案，上位机运行自动调试软件，再通过集线器控制射频调试板。数控衰减器和射频切换开关由mcu控制。数控衰减器用于防止检波器输入饱和，射频切换开关用于功率测试电路和频率测试电路的切换，完成对短波激励器射频板的测试，将测试数据发送至mcu，再由mcu转发至上位机，从而实现对短波激励器射频板的批量调试。

9、在一种可能的实现方式中，所述功率测试电路包括检波器和adc1，所述检波器分别电连接射频切换开关和adc1，所述adc1电连接所述mcu。

10、在一种可能的实现方式中，所述频率测试电路包括adc2，所述adc2电连接所述mcu。

11、在一种可能的实现方式中，所述检波器的灵敏度不低于20mv/db。

12、在一种可能的实现方式中，所述adc1电路的最小精度不低于1mv。

13、在一种可能的实现方式中，所述功率检波器的输入功率控制在-30dbm~0dbm之间。

14、在一种可能的实现方式中，所述时钟源的准确度不低于0.1ppm。

15、在一种可能的实现方式中，所述时钟源可以为gps/bd模块或者铷钟时钟源。

16、综上所述，本申请包括以下至少一种有益技术效果：

17、1.上位机运行自动调试软件，再通过集线器控制射频调试板。数控衰减器和射频切换开关由mcu控制。数控衰减器用于防止检波器输入饱和，射频切换开关用于功率测试电路和频率测试电路的切换，完成对短波激励器射频板的测试，将测试数据发送至mcu，再由mcu转发至上位机，从而实现对短波激励器射频板的批量调试；

18、2.使用adc1减少频谱仪和频率计的使用。

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【技术保护点】

1.一种批量调试短波激励器射频板的调试装置，其特征在于：包括上位机(1)、集线器(2)、MCU(3)和时钟源(4)；

2.根据权利要求1所述的批量调试短波激励器射频板的调试装置，其特征在于：所述功率测试电路(10)包括检波器(12)和ADC1(13)，所述检波器(12)分别电连接射频切换开关(9)和ADC1(13)，所述ADC1(13)电连接所述MCU(3)。

3.根据权利要求2所述的批量调试短波激励器射频板的调试装置，其特征在于：所述频率测试电路(11)包括ADC2(14)，所述ADC2(14)电连接所述MCU(3)。

4.根据权利要求3所述的批量调试短波激励器射频板的调试装置，其特征在于：所述检波器(12)的灵敏度不低于20mv/dB。

5.根据权利要求2所述的批量调试短波激励器射频板的调试装置，其特征在于：所述ADC1(13)电路的最小精度不低于1mv。

6.根据权利要求2所述的批量调试短波激励器射频板的调试装置，其特征在于：所述检波器(12)的输入功率控制在-30dBm~0dBm之间。

7.根据权利要求1所述的批量调试短波激励器射频板的调试装置，其特征在于：所述时钟源(4)的准确度不低于0.1ppm。

8.根据权利要求7所述的批量调试短波激励器射频板的调试装置，其特征在于：所述时钟源(4)可以为GPS/BD模块或者铷钟时钟源。

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【技术特征摘要】

1.一种批量调试短波激励器射频板的调试装置，其特征在于：包括上位机(1)、集线器(2)、mcu(3)和时钟源(4)；

2.根据权利要求1所述的批量调试短波激励器射频板的调试装置，其特征在于：所述功率测试电路(10)包括检波器(12)和adc1(13)，所述检波器(12)分别电连接射频切换开关(9)和adc1(13)，所述adc1(13)电连接所述mcu(3)。

3.根据权利要求2所述的批量调试短波激励器射频板的调试装置，其特征在于：所述频率测试电路(11)包括adc2(14)，所述adc2(14)电连接所述mcu(3)。

4.根据权利要求3所述的批量调试短波激励器射频板的调试...

【专利技术属性】
技术研发人员：王金香，李长春，
申请(专利权)人：北京北广科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：