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本发明为一种ＲＦＩＤ标签工作电平的基准测试系统及方法，包括待测标签支架、收发及参考天线支架、收发及参考天线置于标准测试环境内；环形器、频谱分析仪、ＲＦＩＤ信号发生器、功率计置于标准测试环境外；方法是将ＲＦＩＤ标签芯片和天线看作整体，用电磁波...
该专利属于中国科学院自动化研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院自动化研究所授权不得商用。

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