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本发明实施例公开一种芯片内部时钟周期抖动测量装置、方法及芯片，涉及半导体技术领域，便于提高芯片时钟周期抖动测量的准确性。所述装置包括：设置于芯片内部的基准信号生成单元和时间数字转换单元，所述基准信号生成单元，用于生成作为参考信号的时钟基准信...
该专利属于海光信息技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过海光信息技术股份有限公司授权不得商用。

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