【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体，尤其涉及一种芯片内部时钟周期抖动测量装置、方法及芯片。
技术介绍
1、在数字电路设计中，时钟抖动是一个重要的性能指标，它表征了时钟信号的稳定性和精确度。时钟抖动会直接影响高速接口的速率，同时也会对片上系统（system onchip，soc）的数字电路的时序产生不利影响。目前，通过片外示波器来测量抖动大小，进而通过优化设计来提升时钟质量，但是这种测量方法存在测量不准确的问题。
2、比如，在soc数字时序签核过程中，特别是在建立（setup）时序检查中，时钟周期的长短直接影响时序的满足情况，而时钟周期的长短与时钟周期抖动密切相关。然而，目前测量方式一般是将芯片内部时钟通过输出口接到芯片外的示波器来测试，但是在时钟传输路径上，如果电源质量不好，会导致时钟测量结果的恶化，无法准确测量到内部电路实际的时钟周期抖动。
技术实现思路
1、有鉴于此，本专利技术实施例提供一种芯片内部时钟周期抖动测量装置、方法及芯片，便于提高芯片内部时钟周期抖动测量的准确性。
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【技术保护点】
1.一种芯片内部时钟周期抖动测量装置，其特征在于，所述装置包括：设置于芯片内部的基准信号生成单元和时间数字转换单元；其中，
2.根据权利要求1所述的芯片内部时钟周期抖动测量装置，其特征在于，还包括：时间数字转换校准控制单元，用于对所述时间数字转换单元的步长精度进行校准。
3.根据权利要求2所述的芯片内部时钟周期抖动测量装置，其特征在于，所述时间数字转换单元，包括：前后相连的多级第一延迟单元，用于接收预定相位差的第一时钟信号和第二时钟信号；
4.根据权利要求3所述的芯片内部时钟周期抖动测量装置，其特征在于，还包括：延迟锁相环，用于对输...
【技术特征摘要】
1.一种芯片内部时钟周期抖动测量装置，其特征在于，所述装置包括：设置于芯片内部的基准信号生成单元和时间数字转换单元；其中，
2.根据权利要求1所述的芯片内部时钟周期抖动测量装置，其特征在于，还包括：时间数字转换校准控制单元，用于对所述时间数字转换单元的步长精度进行校准。
3.根据权利要求2所述的芯片内部时钟周期抖动测量装置，其特征在于，所述时间数字转换单元，包括：前后相连的多级第一延迟单元，用于接收预定相位差的第一时钟信号和第二时钟信号；
4.根据权利要求3所述的芯片内部时钟周期抖动测量装置，其特征在于，还包括：延迟锁相环，用于对输入时钟信号进行处理，输出具有所述预定相位差的第一时钟信号和第二时钟信号。
5.根据权利要求4所述的芯片内部时钟周期抖动测量装置，其特征在于，所述延迟锁相环包括：单端转差分模块，用于将输入时钟信号转换为差分时钟信号；
6.根据权利要求5所述的芯片内部时钟周期抖动测量装置，其特征在于，
7.根据权利要求1所述的芯片内部时钟周期抖动测量装置，其特征在于，所述装置还包括：位于芯片内部的测量值读取单元，用于读取时间数字转换单元输出的多个相位差测量值；
8.一种芯片内部...
【专利技术属性】
技术研发人员：王文根，吴瑞，
申请(专利权)人：海光信息技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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