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本申请涉及一种手机孔区缺陷检测方法、系统、设备及介质，方法包括：获取待测手机的孔区缺陷检测需求；基于孔区缺陷检测需求，确定对待测手机进行检测的检测环境；将待测手机的孔区所在区域划分为多个待拍摄区域；基于检测环境对待拍摄区域进行拍摄，得到拍摄...
该专利属于北京兆维智能装备有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京兆维智能装备有限公司授权不得商用。

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