下载用于GaAs刻蚀工艺的自适应优化方法及装置的技术资料

文档序号:43455959

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本申请公开了用于GaAs刻蚀工艺的自适应优化方法及装置,涉及半导体工艺相关领域,该方法包括:引入工艺环境信息,按照工艺环境信息利用GaAs刻蚀工艺进行实验,获得工艺实验结果同步至工艺性能评估模型,得到工艺性能评估结果定义待优化刻蚀工艺参数集...
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