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本发明公开了一种用于芯片晶圆检测的探针卡生产质量管理方法及系统，涉及生产管理相关技术领域，该方法包括：读取芯片基础规格，与基于批次生产定制化的目标探针卡；基于芯片基础规格与目标探针卡，完善模拟测试场；确定多温区检测环境，结合模拟测试场进行目...
该专利属于道格特半导体科技（江苏）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过道格特半导体科技（江苏）有限公司授权不得商用。

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