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本发明涉及光谱成像领域，提供一种全谱段成像探测系统，包括主镜、次镜、视场分离器、可见短波后光路系统、中长波后光路系统；可见短波后光路系统包括第一偏折镜、第二偏折镜、第三反射镜、第四反射镜以及第五反射镜；光依次经过主镜、次镜、第一偏转镜、第二...
该专利属于中国科学院上海技术物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院上海技术物理研究所授权不得商用。

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