全谱段成像探测系统技术方案

本发明专利技术涉及光谱成像领域，提供一种全谱段成像探测系统，包括主镜、次镜、视场分离器、可见短波后光路系统、中长波后光路系统；可见短波后光路系统包括第一偏折镜、第二偏折镜、第三反射镜、第四反射镜以及第五反射镜；光依次经过主镜、次镜、第一偏转镜、第二偏转镜、第三反射镜、第四反射镜以及第五反射镜后进行可见短波波段成像；中长波后光路系统包括第三偏折镜、第四偏折镜、第六反射镜、第七反射镜以及第八反射镜；光依次经过主镜、次镜、第三偏转镜、第四偏折镜、第六反射镜、第七反射镜以及第八反射镜后进行中长波波段成像。用以解决现有技术中的星载大口径对地探测相机往往只能进行单一谱段的成像，不能满足高分辨率全谱段信息同步获取的缺陷，本申请的方案可以在一台载荷上完成全谱段的成像探测。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及对地探测成像，尤其涉及一种全谱段成像探测系统。

技术介绍

1、光学相机主要是基于镜片对入射的光线进行一系列反射以及透射然后进行成像。

2、受航天器的影响，星载成像系统在体积和重量上受到了一定限制，导致难以在航天器上部署多台不同波段成像设备。随着星载对地探测对图像分辨率、响应速度以及多波段图像同步获取的更高需求，相关技术中的星载对地探测相机往往只能进行单一谱段的成像，谱段覆盖范围有限，分辨率低，不能满足更高质量图像数据、多波段图像同步获取的需求。

技术实现思路

1、本专利技术提供一种全谱段成像探测系统，用以解决现有技术中的星载对地探测相机往往只能进行单一谱段的成像，不能满足实际应用的需求的缺陷，本申请的方案可以在一台载荷上完成全谱段的成像探测。

2、本专利技术提供一种全谱段成像探测系统，包括：

3、主镜、次镜、视场分离器、可见短波后光路系统、中长波后光路系统；

4、入射光线通过所述主镜反射至所述次镜，经所述次镜反射后，所述光线通过所述视场分离器分离为本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.全谱段成像探测系统，其特征在于，包括：主镜、次镜、视场分离器、可见短波后光路系统、中长波后光路系统；

2.根据权利要求1所述的全谱段成像探测系统，其特征在于，所述主镜为八阶偶次非球面反射镜；

3.根据权利要求1所述的全谱段成像探测系统，其特征在于，所述第一偏折镜和所述第二偏折镜为平面镜，所述第三偏折镜和所述第四偏折镜为平面镜。

4.根据权利要求2所述的全谱段成像探测系统，其特征在于，所述主镜的非球面面型符合如下公式：

5.根据权利要求4所述的全谱段成像探测系统，其特征在于，所述主镜满足：

6.根据权利要求1所述的全谱段成像探...

【技术特征摘要】

1.全谱段成像探测系统，其特征在于，包括：主镜、次镜、视场分离器、可见短波后光路系统、中长波后光路系统；

2.根据权利要求1所述的全谱段成像探测系统，其特征在于，所述主镜为八阶偶次非球面反射镜；

3.根据权利要求1所述的全谱段成像探测系统，其特征在于，所述第一偏折镜和所述第二偏折镜为平面镜，所述第三偏折镜和所述第四偏折镜为平面镜。

4.根据权利要求2所述的全谱段成像探测系统，其特征在于，所述主镜的非球面面型符合如下公式：

5.根据权利要求4所述的全谱段成像探测系统，其特征在于，所述主镜满足：

6...

【专利技术属性】
技术研发人员：王跃明，吴寅，张东，张长兴，王晟玮，姚祎，刘军，韩贵丞，许晗，金家融，
申请(专利权)人：中国科学院上海技术物理研究所，
类型：发明
国别省市：