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本申请适用于芯片测试技术领域，提供了一种芯片测试方法、系统、终端设备及存储介质，其中，方法应用于测试板，测试板包括主控芯片和被测芯片，包括：若主控芯片进入DFT测试模式，则根据DFT原始测试数据，获得DFT目标测试数据；运行DFT测试程序，...
该专利属于深圳市国微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市国微电子有限公司授权不得商用。

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