【技术实现步骤摘要】
本申请属于芯片测试，尤其涉及一种芯片测试方法、系统、终端设备及存储介质。
技术介绍
1、为了确保芯片的质量和可靠性，往往在芯片的生产测试中进行可靠性设计(design for test，dft)测试和功能测试，传统的dft测试和功能测试在设计过程中相互独立，由于测试机台的存储深度有限等问题，使得dft测试的测试难度大、测试周期过长，从而导致整个芯片测试的测试效率较低。
技术实现思路
1、有鉴于此，本申请实施例提供一种芯片测试方法、系统、终端设备及存储介质，以解决现有技术中芯片测试效率低的问题。
2、本申请实施例的第一方面提供了一种芯片测试方法，应用于测试板，所述测试板包括主控芯片和被测芯片，所述芯片测试方法包括：
3、若所述主控芯片进入dft测试模式，则根据dft原始测试数据，获得dft目标测试数据；
4、运行dft测试程序，通过所述被测芯片的dft测试输入接口，将所述dft目标测试数据输入至被测芯片；
5、通过所述被测芯片的dft测试输出接...
【技术保护点】
1.一种芯片测试方法，其特征在于，应用于测试板，所述测试板包括主控芯片和被测芯片，所述芯片测试方法包括：
2.如权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，所述测试板还包括供电监控模块；
3.如权利要求2所述的芯片测试方法，其特征在于，所述根据DFT原始测试数据，获得DFT目标测试数据，包括：
4.如权利要求3所述的芯片测试方法，其特征在于，所述获取文本文件格式的DFT原始测试数据之后，还包括：
5.如权利要求1至4任一项所述的芯片测试方法，其特征在于，所述芯片测试方法，还包括：
6.如权利要求5所述的芯片测试...
【技术特征摘要】
1.一种芯片测试方法，其特征在于，应用于测试板，所述测试板包括主控芯片和被测芯片，所述芯片测试方法包括：
2.如权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，所述测试板还包括供电监控模块；
3.如权利要求2所述的芯片测试方法，其特征在于，所述根据dft原始测试数据，获得dft目标测试数据，包括：
4.如权利要求3所述的芯片测试方法，其特征在于，所述获取文本文件格式的dft原始测试数据之后，还包括：
5.如权利要求1至4任一项所述的芯片测试方法，其特征在于，所述芯片测试方法，还包括：
6.如权利要求5所述的芯片测试方法，其特征在于，所述通过所述被测芯片的功能测试输出接口，获取所述被测芯...
【专利技术属性】
技术研发人员：谢海，温海珊，彭小飞，文少东，吴亮，张首勇，郑敏，田烜宁，
申请(专利权)人：深圳市国微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
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