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本公开涉及相变型存储器装置和读取该装置的方法。待读取的相变存储器单元与置于置位状态的相变参考存储器单元相关联。参考存储器单元具有与存储器单元的结构相同的结构。第一电压被施加到存储器单元以造成第一电流的输出。第二电压被施加到参考存储器单元以造...
该专利属于意法半导体国际公司所有，仅供学习研究参考，未经过意法半导体国际公司授权不得商用。

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