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本申请是一种高功率半导体器件的参数特性检测方法，具体是将开关特性测试电路、电流反向恢复测试电路、可靠性测试电路通过功率继电器整合在同一测试电路中的多参数动态监测方法。为了解决现有技术中不同参数测试分别采用独立的半导体测试装置造成设备成本高、...
该专利属于深圳市申拓科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市申拓科技有限公司授权不得商用。

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