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本发明涉及一种半导体芯片测试装置，包括测试主体，所述测试主体两侧均设置有输送装置，所述测试主体上方设置有两个旋转盘，所述旋转盘转动安装于支撑架上且所述支撑架能够驱动旋转盘转动，所述旋转盘圆周侧面呈圆形阵列设置有若干气动伸缩组件，所述气动伸缩...
该专利属于江苏海纳电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过江苏海纳电子科技有限公司授权不得商用。

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