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公开了用于二次电池的变形分析装置及其方法。具体地，公开了一种用于二次电池的变形分析装置和非破坏性分析方法，可以通过该变形分析装置和非破坏性方法使用计算机断层摄影(CT)图像来诊断二次电池的电极变形，该方法包括以下步骤：通过对二次电池执行计算...
该专利属于三星SDI株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过三星SDI株式会社授权不得商用。

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