【技术实现步骤摘要】
技术介绍
1、由于二次电池的连续充电和放电，电池内侧发生各种导致电池劣化和性能劣化的电化学反应。尤其是，在充电和放电期间发生的电池的内部变形是造成劣化和性能下降的主要因素。为了分析此劣化现象，使用了涉及拆解电池以进行分析的破坏性分析方法。然而，此分析方法在拆解过程期间不可避免地会对电池的内侧造成损坏，并且使其难以确定性能劣化的实际原因，并且因此在确认随着充电和放电进程的劣化的趋势方面受到限制。
技术实现思路
1、实施例针对用于具有壳体中的电极组件的二次电池的变形分析方法。变形分析方法可以包括以下步骤：通过对二次电池执行计算机断层摄影(ct)成像来获得图像；使用来自图像的亮度差生成强度图；从强度图测量芯峰值fwhm(半峰全宽)或芯直径变化值，以及如果测量的芯峰值fwhm大于峰值参考值或芯直径变化值大于直径参考值，则确定电极组件变形。
2、在实施方式中，二次电池可以具有圆柱形形状。
3、在实施方式中，电极组件可以包括卷绕成圆柱...
【技术保护点】
1.一种用于具有壳体中的电极组件的二次电池的变形分析方法，所述变形分析方法包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的变形分析方法，其中，所述二次电池具有圆柱形形状。
3.根据权利要求1所述的变形分析方法，其中，所述电极组件包括卷绕成圆柱形形状的正极板、隔膜和负极板的堆叠。
4.根据权利要求1所述的变形分析方法，其中，所述强度图从所述电极组件的芯和芯的外周之间的亮度差生成。
5.根据权利要求4所述的变形分析方法，其中，所述芯是空的空间，所述芯的外周是所述电极组件的卷绕前端区域，并且所述芯的亮度比所述卷绕前端区域暗。
<...【技术特征摘要】
1.一种用于具有壳体中的电极组件的二次电池的变形分析方法，所述变形分析方法包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的变形分析方法，其中，所述二次电池具有圆柱形形状。
3.根据权利要求1所述的变形分析方法，其中，所述电极组件包括卷绕成圆柱形形状的正极板、隔膜和负极板的堆叠。
4.根据权利要求1所述的变形分析方法，其中，所述强度图从所述电极组件的芯和芯的外周之间的亮度差生成。
5.根据权利要求4所述的变形分析方法，其中，所述芯是空的空间，所述芯的外周是所述电极组件的卷绕前端区域，并且所述芯的亮度比所述卷绕前端区域暗。
6.根据权利要求1所述的变形分析方法，其中，所述图像通过垂直于所述电极组件的卷绕轴进行拍摄而获得。
7.根据权利要求1所述的变形分析方法，其中，所述步骤根据所述二次电池的充电/放电循环的次数而重复地执行。
8.根据权利要求7所述的变形分析方法，进一步包括将所述芯峰值半峰全宽的根据充电/放电循环的所述次数的变化转换成峰值半峰全宽图，或将所述芯直径的根据充电/放电循环的所述次数的变化转换成直径变化图的步骤。
9.根据权利要求1所述的变形分析方法，其中，所述峰值参考值是0.2mm至0.6mm。
10.根据权利要求1所述的变形分析方法，其中，所述直径参考值是0.5mm至2mm。
11.一种用于具有壳...
【专利技术属性】
技术研发人员：禹成浩，金大植，李圣国，金志映，李宝兰，李贤煜，朴昶贤，郑旭玹，
申请(专利权)人：三星SDI株式会社，
类型：发明
国别省市：
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