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本发明公开了一种片上纳米天线增强二维材料中红外光电探测器，该探测器主要由衬底层、绝缘隔离层、金属层以及二维材料层组成。金属层包括金属电极以及纳米天线。纳米天线将自由空间光耦合到纳米级亚波长天线间隙中，天线间隙内的超高电场强度增强二维材料与光...
该专利属于上海大学所有，仅供学习研究参考，未经过上海大学授权不得商用。

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