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本发明提供一种功率半导体模组的局部放电原因推断方法，能够使用局部放电试验中的放电电荷量的时序数据，来简易且自动地推断局部放电原因。一种功率半导体模组的局部放电原因推断方法，用于推断功率半导体模组的局部放电试验时的局部放电原因，其特征在于，包...
该专利属于美蓓亚功率半导体株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过美蓓亚功率半导体株式会社授权不得商用。

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