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本申请提供了一种删除晶圆图中的PCM区域的方法及相关装置，方法包括：获取晶圆图中PCM区域与芯片的排布方式；在排布方式为PCM区域围绕芯片排布的情况下，获取晶圆图的中心芯片的目标图像信息；获取经过中心芯片的多条目标直线；针对多条目标直线中的...
该专利属于深圳市森美协尔科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市森美协尔科技有限公司授权不得商用。

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